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晶體結(jié)構(gòu)對(duì)鐵電測(cè)試儀測(cè)試結(jié)果的影響

更新時(shí)間:2025-03-17  |  點(diǎn)擊率:618
鐵電薄膜具有鐵電性且厚度在數(shù)十納米至數(shù)微米的薄膜材料,是一類重要的功能薄膜材料。與體材料一樣具有介電性、鐵電開關(guān)效應(yīng)、壓電效應(yīng)、熱釋電效應(yīng)、電光效應(yīng)、聲光效應(yīng)、光折射效應(yīng)和非線性光學(xué)效應(yīng)等一系列特性。既可單獨(dú)利用上述諸效應(yīng)制作出不同的功能器件,也可綜合利用兩個(gè)或兩個(gè)以上的效應(yīng)制作多功能器件、集成器件或機(jī)敏器件。
鐵電測(cè)試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測(cè)試裝置,這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、可測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜值??梢赃M(jìn)行電致應(yīng)變測(cè)試,可以蝴蝶曲線功能,設(shè)備還可以擴(kuò)展高溫電阻,高溫介電,電容-電壓曲線,TSC/TSDC等功能。動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)量-DHM、泄漏電流測(cè)量-LM、CV測(cè)量-CVM、疲勞測(cè)量-FM、保持力測(cè)量-RM、印記測(cè)量-IM、脈沖測(cè)量-PM、靜態(tài)電滯回線測(cè)量-SHM、擊穿電壓測(cè)量-BDM等,對(duì)于評(píng)估鐵電材料的性能以及優(yōu)化器件設(shè)計(jì)具有重要意義。
同一種材料,單晶體和多晶體的電滯回線是不同的。如單晶體的電滯回線很接近于矩形,P和P很接近,而且P較高;陶瓷的電滯回線中P與P相差較多,表明陶瓷多晶體不易成為單疇,即不易定向排列。
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