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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
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YDB-03型非接觸式表面電壓測(cè)量?jī)x是一款應(yīng)用于壓電陶瓷，壓電薄膜等極化后，采用非接觸方式測(cè)量其表面的電壓，電流等功能的實(shí)驗(yàn)裝置，同時(shí)測(cè)量絕緣體、半導(dǎo)體或?qū)w表面電位測(cè)量，可以配合軟件進(jìn)行曲線成圖分析，是在目前材料表面電壓測(cè)量中是重要的科研設(shè)備。
GWJDN-800型四通道高低溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析，通過配置不同的測(cè)試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測(cè)試。是一代高溫介電測(cè)試系統(tǒng)，性能*，*科研級(jí)別的精密測(cè)試裝置，是國家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備。
ZJ-3型壓電薄膜測(cè)試儀是一款即可測(cè)量薄膜材料的D33系數(shù)，也可以測(cè)量塊體材料的靜壓電D33系數(shù)，該設(shè)備測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，性能穩(wěn)定，不僅是可以用科學(xué)研究，還可以用于壓電材料的生產(chǎn)，目前在國內(nèi)外廣泛使用.
目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度，無法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100儲(chǔ)能型電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過阻尼充放電測(cè)試。是目前研究?jī)?chǔ)能材料的重要科研設(shè)備，是目前高等院校和
DCD-100型儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過阻尼充放電測(cè)試。
PTC/NTC-500高溫?zé)崦綦娮璨牧蠀?shù)測(cè)量分析系統(tǒng) 關(guān)鍵詞:熱敏材料,電阻,伏安特，電壓
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