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產(chǎn)品簡介 GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當(dāng)前的自動平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面。基于Windows10操作系統(tǒng)。實現(xiàn)了全電腦化操作界面。讓測試更智能、更簡便。 T 120MHz的頻率瓶頸:解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷:中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的增尬:采用單測和分析兩種界面。

TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導(dǎo)電材料的電阻率測量。是目前科研和生產(chǎn)的重要材料測量設(shè)備。

HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設(shè)備，可以出具CNAS整體認證的專業(yè)材料高溫測量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設(shè)計的懸浮式電路，

HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設(shè)計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導(dǎo)體GaAsA

GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量，并參考美國A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。高低溫介電溫譜測量系統(tǒng)(-190℃-1000℃）電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全。

四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。