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熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement) 本系統(tǒng)除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)。

熱電性能測試儀 COMTESSE (Thermoelectric Measurement) 本系統(tǒng)主要用于熱電性能測試。 包括：熱導(dǎo)率thermal conductivity, 電導(dǎo)率electrical conductivity, 塞貝克系數(shù)Seebeck-Coefficient, Harman ZT等隨溫度的變化。

機電薄膜e31測試儀 aix4PB (Electromechanical thin film e31 analyzer ) 薄膜材料的機電性能是MEMS器件設(shè)計的關(guān)鍵性能，縱向壓電系數(shù)d33和橫向壓電系數(shù)e31被用于表征傳感器和執(zhí)行器的這些關(guān)鍵性能。 縱向壓電系數(shù)可由aixDBLI測試，而橫向壓電系數(shù)e31就可用aix4PB系統(tǒng)測試。 通過必要夾具，可以測得正向e31和逆向e31。

高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800 本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機電性能的表征。 壓電測試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。 大信號和小信號材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測量是通過精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵信號。樣品的微位移同時通過激光干涉儀進行測量。

多鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR (MagnetoResistive Measurement) 本系統(tǒng)主要用于研究磁阻和鐵性材料。 本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵和測試，樣品上的電壓降通過高精度四點測試。

低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo 本系統(tǒng)主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機電性能的表征。壓電測試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。 大信號和小信號材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測量是通過精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵信號。樣品的微位移同時通過激光干涉儀進行測量。