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JK-SEM1900型原位冷熱臺
JK-SEM1900型原位冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現(xiàn)對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩(wěn)定后溫控精度最高可達&...
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JK-600CH190P4D型外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺
JK-600CH190P4D型外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺
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JK-600GCH2190P4微型探針冷熱臺
JK-600GCH2190P4微型探針冷熱臺產(chǎn)品特點：結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測試最大溫度范圍-190~600℃（選型) 氣密腔室設計，可通保護氣體多探針測試上位機軟件控制支持改動或定制
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JK-600CH190P8型常規(guī)探針冷熱臺
JK-600CH190P8型常規(guī)探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1...
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JK-600CH190P2BPE型電控位移探針冷熱臺
光學冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準控制，與其他光學...
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JK-600CHG2190型光學冷熱臺
JK-600CHG2190型光學冷熱臺是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~100...
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JK-GH600-190型光學冷熱臺
光學冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準控制，與其他光學...
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JK-GH600S光學熱臺
光學熱臺JK-GH600S是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準控制，與其他光學設備（如顯微鏡、拉曼光...
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JK-CH600LSJ型自調(diào)節(jié)拉伸機冷熱臺
Instruments拉伸機冷熱臺拉伸機冷熱臺-JK-CH600LSJ型自調(diào)節(jié)拉伸機冷熱臺是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-1...
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JK-150BPE型半導體冷熱臺
JK-150BPE型半導體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺，利用半導體的熱-電效應制冷，配合循環(huán)水散熱，在 -30~150℃的溫度范圍內(nèi)進行控溫，實現(xiàn)樣品在開放式 / 氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學、電學等測試...
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JK-120BCH半導體冷熱臺
半導體冷熱臺JK-120BCH采用半導體致冷，配合低溫循環(huán)液，實現(xiàn)從-40到180℃（選型）的控溫。結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測試氣密腔室設計，可通保護氣體多探針測試上位機軟件控制支持改動或定制
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JK-120BPE型半導體冷熱臺
半導體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導體冷熱控制，配合循環(huán)水散熱，實現(xiàn)從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點?？梢詫崿F(xiàn)變溫光學測試，或者選配探針實現(xiàn)...
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